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Wafer ESD 测试机 产品系列

此设备是可以在Wafer level上进行HBM,MM测试的设备

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HED-W5100D
HED-W5100D

全自动 Wafer ESD测试机

从LED到系统LSI的大口径Wafer,可适用于HBM和MM的放电

ESD印加后,可根据漏电流测试判断pass/fail

并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试

对ESD测试中发生问题的器件,能有效取得保护电路中的工作参数

是满足日本、国际标准的高可靠性设备。(满足JEITA/ESDA/JEDEC规格)


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HED-W5000M
HED-W5000M

高性能半自动Wafer level ESD测试机

通过操作探针座,可以轻松地决定两个管脚之间的位置

在印加脉冲后,可以通过漏电流测试判断pass/fail。


HED-W5000M-SP0
HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

低成本、高性能

可通过开放控制软件构建广泛应用程序


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HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD测试机

在对集成电路中保护电路工作参数的收集与分析上,虽然TLP测试机起到了很大的作用,但是在半导体制程细微化的发展中, 为了提高对ESD的抵抗性,保护电路需要更快的研发速度

HED-W5000M-WFC测试机,因其可以观测到被印加到器件上的实际的ESD波形,所以有助于收集、分析保护电路参数以及缩短研发速度


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